National Instruments NI System Monitor
" (347764)Ni PXI-8250用户手册：National Instruments系统监控硬件
本手册详细介绍了NI PXI-8250模块的功能和配置信息。该模块用于监测PXI机箱的状态参数，并通过前面板LED和警报继电器显示状态信息。主要功能包括电压轨、温度和风扇监控，以及警报继电器和熔断电源输出。手册提供了软件安装、硬件安装和配置的详细步骤，并包含了技术规格和故障排除信息。
National Instruments软件激活说明
本资料提供了National Instruments软件的激活指南，包括安装软件、定位序列号、启动激活向导、保存激活码以及升级软件的安装和激活过程。资料还涵盖了产品注册、软件转移、激活方法、隐私政策以及相关术语解释。
Lookout National Instruments入门
本资料为National Instruments Corporation的Lookout软件入门指南，内容涵盖软件的安装、配置、工作原理以及基本使用方法。资料详细介绍了硬件和软件要求、TCP/IP测试、安装过程、注册、首次启动、系统选项设置、Lookout的工作原理、基本界面和工具使用、开发过程、对象创建和连接等。
Ni Circuit Design Suite National Instruments可访问性一致性报告
本报告评估了National Instruments的Circuit Design Suite软件的合规性，包括Multisim和Ultiboard。报告基于Web内容可访问性指南2.0（WCAG 2.0）和修订后的第508节标准。软件在视觉、听觉、操作和认知等方面存在不同程度的支持或不符合。报告详细列出了软件在不同标准下的合规程度，包括对辅助技术的兼容性、支持文档和服务等。
PXI-2566波动字母-National Instruments
本资料详细描述了PXI-2566设备中不同类型存储器的特性，包括易失性存储器和非易失性存储器。易失性存储器如SRAM和FPGA Block RAM在断电后数据会丢失，而非易失性存储器如FLASH和CPLD则不会。资料还提供了关于用户可访问和系统可访问存储器的定义，以及数据清除和消毒的程序。此外，还包括了如何识别板级组件编号和修订版本的方法。
PXI-2564波动字母-National Instruments
本资料详细描述了PXI-2564设备中不同类型存储器的特性，包括易失性存储器和非易失性存储器。易失性存储器如SRAM和FPGA Block RAM在断电后数据会丢失，而非易失性存储器如FLASH和CPLD则不会。资料还解释了循环电源、用户可访问和系统可访问的概念，并提供了数据清除和消毒的定义。此外，还提供了识别板级组件编号的程序和术语定义。
国家仪器专利专利公告
本资料详细列出了National Instruments（NI）公司旗下多个产品线所涉及的专利信息，包括但不限于LabVIEW软件、LabVIEW FPGA软件/硬件、LabVIEW Real Time软件、LabVIEW Signal Processing Toolset、LabVIEW Datalogging and Supervisory Control Module等。资料中涵盖了美国、欧洲和中国等多个国家和地区的专利，包括专利号、专利类型等详细信息。此外，资料还提到了NI公司其他产品线，如Sound and Vibration Measurement Suite、Spectral Measurements Toolkit、PID Control Toolset等，以及相关硬件产品，如PCI、CompactPCI、PXI、VXI、SCXI、IEEE 1394和USB等。
PXI-6509波动字母-National Instruments
本资料详细介绍了PXI-6509的易失性内存和非易失性内存的特性和处理方法。内容包括内存类型、大小、电池备份、用户和系统访问权限，以及数据清除和消毒程序。资料还提供了识别板级组件编号和修订的方法，以及相关术语和定义。
国家仪器软件许可协议
本软件许可协议规定了用户使用National Instruments（NI）软件的条款和条件。协议授予用户有限、可撤销、非独占的使用权，但受限于特定配置和许可类型。协议禁止未经授权修改、分发、反向工程或绕过软件访问限制。协议还涵盖了不同类型的许可（如命名用户许可和基于计算机的许可）、升级、保修、知识产权责任和限制责任。此外，协议还包含了关于数据收集、法律适用和一般条款的信息。
PXI-2585/2586波动字母-美国国家仪器公司
本资料详细描述了PXI-2585/86型产品的内存特性，包括易失性内存和非易失性内存的详细信息。资料中明确了不同类型内存的数据类型、大小、是否需要电池备份、用户和系统访问权限，以及数据清理和消毒程序。此外，还提供了识别板级组件编号和修订的方法，以及相关术语的定义。
Ni PXIE-7867R/7868R波动率字母
本资料详细介绍了National Instruments生产的NI PXIe-7867R/7868R系列产品的内存特性，包括易失性内存和非易失性内存的存储类型、大小、电池供电情况以及用户和系统访问权限。资料还提供了内存数据清除和设备配置闪存的详细操作步骤，以及相关术语的定义。
Ni TestStand™开始使用TestStand
本资料为National Instruments公司发布的《TestStand入门》指南，主要介绍了TestStand测试管理框架的概述、系统架构、主要软件组件、测试序列的加载和运行、序列步骤的编辑、调试、变量和属性的使用、回调序列、用户和权限设置、交互式执行、动态调用序列、自定义报告、调用LabVIEW VIs和LabWindows/CVI代码模块等内容。资料旨在帮助用户快速上手TestStand，了解其功能和操作方法。
Ni PXI-2586正常使用条件下的挥发性字母
本资料详细描述了National Instruments生产的PXI-2586模块在正常使用条件下的内存波动情况。内容包括不同类型内存（如SRAM、FPGA、FLASH、EEPROM、CPLD）的大小、用户和系统访问权限、电池备份情况、用途以及清除方法。资料还定义了“用户可访问”、“系统可访问”、“循环电源”、“易失性内存”和“非易失性内存”等术语。
NI VB-8012安全、环境和法规信息
本资料为National Instruments VB-8012虚拟仪器的安全、环境和法规信息。内容包括安全指南、电压限制、电磁兼容性规范、连接信息等。强调操作安全，避免电气危险，并提供了连接到不同接口时的注意事项。
Ni 6115/6120规格
本资料详细列出了NI 6115/6120型号的规格参数，包括模拟输入和输出特性、数字I/O、时序I/O、触发器、总线接口、电源需求、物理尺寸、工作电压、环境要求、安全标准、电磁兼容性、产品认证和环境管理等方面。资料中提供了典型规格、额定规格和保证规格，并详细说明了各项性能指标和参数。
National Instruments可扩展直接注射器驱动系统Ni EDIDS-2400系列用户手册
本手册详细介绍了National Instruments（NI）的可扩展直接喷射驱动器系统（NI EDIDS-2400系列）的硬件和软件设置。该系统包括NI cRIO-9082控制器、DI驱动器模块和数字输入模块，用于同步喷射通道与生产曲轴/凸轮位置传感器或光学编码器，并接受来自生产发动机控制器的外部数字燃油命令信号。手册涵盖了系统硬件和软件的安装、配置、使用和维护，包括连接DI驱动器、传感器和执行器，以及使用DI驱动器系统控制燃油压力等。此外，还提供了故障排除信息和系统界面说明。
158138A-21 158138A-22L美国国家仪器
本资料详细介绍了National Instruments生产的PXIe-4304/4305模块的易失性和非易失性内存特性。内容包括内存类型、大小、电池备份情况、用户和系统访问权限，以及数据清除和消毒程序。此外，还提供了识别板级组件编号和设备配置闪存的步骤，以及相关术语和定义。
Lookout开发人员手册（美国国家仪器）
本手册为Lookout开发者提供全面指南，涵盖安装、配置、开发、调试和部署Lookout应用程序的各个方面。内容包括Lookout环境介绍、应用开发流程、图形和表达式使用、数据日志和事件管理、报警和事件处理、安全设置、DDE集成、报告和Web客户端创建、网络部署和冗余配置等。
Ni 9215校准程序
本资料详细介绍了National Instruments 9215的校准程序，包括软件要求、文档要求、测试设备、测试条件、初始设置、验证、调整、EEPROM更新、重新验证以及支持信息。内容涵盖了校准流程的各个步骤，确保NI 9215满足发布规格。
Ni 9220校准程序
本资料详细介绍了National Instruments 9220的校准程序，包括软件要求、文档参考、测试设备、测试条件、初始设置、验证、调整、EEPROM更新、重新验证以及支持信息。内容涵盖了校准流程的各个步骤，确保NI 9220满足发布规格。
Ni 9201/9221校准程序
本资料详细介绍了National Instruments 9201和9221两款产品的校准程序。内容包括软件安装、文档参考、测试设备推荐、测试条件、初始设置、性能验证、准确性调整、EEPROM更新、重新验证以及支持信息等。资料旨在帮助用户确保产品满足发布规格，并提供技术支持联系方式。
Ni 9205/9206校准程序
本资料介绍了使用NI-DAQmx对National Instruments 9205/9206模块进行校准的步骤和注意事项。内容包括校准选项（自校准和外部校准）、软件和文档要求、校准过程（包括初始设置、自校准、验证程序和调整程序）、AI绝对精度表和公式、设备测试极限等。资料强调了校准的定期性和准确性要求，并提供了详细的操作指南和参数设置。
Ni TB-9214校准程序
本资料提供了对National Instruments NI TB-9214模块的校准验证流程。内容包括软件安装、文档参考、测试设备推荐、屏障条组件的组装、测试条件、初始设置、验证步骤以及终端块CJC验证。资料详细说明了校准过程中的各个步骤，包括连接设备、设置环境条件、执行测量和记录结果等。
160针DIN电缆，用于Ni PXI-2520、Ni PXI-2521、Ni PX1-2522、Ni-2523和Ni-2510
本指南详细介绍了如何连接和使用National Instruments的160针DIN屏蔽电缆，该电缆适用于NI PXI-2520/2521/2522/2523和NI PXI-2510开关模块。指南涵盖了电缆的连接步骤、不同配置的电缆说明、连接器类型和引脚分配，以及电缆的规格和环境要求。
Ni 9269校准程序
本资料详细介绍了National Instruments 9269的校准程序，包括软件安装、文档参考、测试设备、测试条件、初始设置、性能验证和调整、EEPROM更新、重新验证以及支持信息。内容涵盖了校准的各个步骤，确保设备满足发布规格。
产品通知：对于某些具有64位操作系统的National Instruments PXI系统，第三方PXI模块可能会导致系统挂起。
本通知指出，某些National Instruments PXI和PXI Express机箱在使用64位内存寻址时可能发生系统挂起或崩溃。此限制发生在PXI-1或混合兼容PXI模块在运行64位操作系统且系统RAM超过4GB的受影响PXI系统上尝试内存事务时。此限制仅影响使用64位内存事务的PXI-1和混合兼容PXI模块；PXI Express模块不受影响。受影响的机箱包括NI PXI-1033、NI PXIe-1062Q等。National Instruments已更新某些PXI模块的硬件驱动程序以解决此限制。如果使用32位操作系统，则不受影响。如计划升级到64位操作系统，请升级到最新NI硬件驱动程序。如使用第三方PXI-1或混合兼容PXI设备，请参阅相关知识库文章。
美国国家仪器公司（National Instruments）选择VPC Mass Interconnect-选择VPC 9025/9025TR用于新的Ni ECU测试仪
National Instruments推出新型ECU功能测试器（ECUTS），为应对现代车辆中ECU数量的增长，该系统采用VPC的9025系列大规模互连解决方案。NI选择VPC的原因在于其易于集成和管理，以及9025的扩展性和快速集成能力，能够满足ECUTS对动力系统、车身和底盘ECU测试的覆盖需求。
Ni 6040E系列规格
本资料详细介绍了NI 6040E系列设备的I/O端子总结和规格。该系列包括NI PCI-MIO-16E-4（NI 6040E）和NI PXI-6040E两款设备。资料中提供了I/O端子的名称、类型、方向、阻抗、保护、源和漏电流、上升时间和偏置等详细信息。此外，还包含了模拟输入、模拟输出、数字I/O、计数器/定时器等功能的规格参数，以及设备的物理尺寸、重量、电源要求、环境和工作温度等信息。
Ni VB-8034 Ni VirtualBench™一体化仪器安全、环境和法规信息
本资料为National Instruments VB-8034虚拟仪器的安全、环境和法规信息。内容包括安全指南、电压限制、电磁兼容性规范、连接信息等。强调操作时应遵循安全规范，避免电气危险，并确保环境符合操作要求。
NI 6703/6704 Specifications
NI VB-8034 NI VirtualBench™ All-In-One Instrument DEVICE SPECIFICATIONS
NI 6154 Specifications
NI 9219E 4-Channel, 24-Bit, Universal Analog Input Module
Ni 9213/9214挥发性字母
本资料详细介绍了National Instruments生产的NI 9213和NI 9214热电偶输入模块的易失性和非易失性内存配置。内容包括内存类型、大小、电池备份情况、用户和系统访问权限，以及数据清除和消毒程序。资料还提供了识别板级组件编号和设备配置EEPROM的步骤，以及相关术语和定义。
Ni 9216 Ni 9226弹簧端子在正常使用条件下的挥发性字母
本资料详细描述了National Instruments生产的NI 9216和NI 9226两款弹簧终端产品的内存稳定性情况。内容包括内存类型、大小、用户可访问性、系统可访问性、电池备份情况、用途以及清除方法。资料还解释了相关术语，如用户可访问、系统可访问、循环电源、易失性内存和非易失性内存等概念。
Ni Circuit Design Suite教育版发行说明
NI Circuit Design Suite 11.0.2版本更新了Multisim组件数据库，包括系统要求、产品层级、新功能和改进。主要更新包括Multisim数据库升级、编程Xilinx PLD、连接器改进、前向和后向注释的持续改进、设计工具箱中添加模拟指示器、直接从组件向导放置组件、改进的Multisim文件加载/保存性能、更新的组件数据库、PCB矩阵标准焊盘图案添加到Ultiboard、Ultiboard中所有层在“常规层”选项卡中显示、Ultiboard帮助的重组织、错误修复等。
Electronic Mall
Brand：Nisshinbo
Category：APD Bias & Current Monitor IC w/ Boost Converter
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Brand：TT Electronics
Category：Vertical Cavity Surface Emitting Laser
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Brand：TT Electronics
Category：Vertical Cavity Surface Emitting Laser
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Brand：TT Electronics
Category：Vertical Cavity Surface Emitting Laser
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Brand：TT Electronics
Category：Vertical Cavity Surface Emitting Laser
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Brand：TT Electronics
Category：Vertical Cavity Surface Emitting Laser
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